103.35
Książki
Wydawnictwo Naukowe PWN
Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych
Zarysy kształtu - Falistość – Mikro- i nanochropowatość
Wydawnictwo:
Wydawnictwo Naukowe PWN
Oprawa: Miękka
Opis
Przedstawiamy wyjątkową publikację – kompendium poświęcone tematyce metrologii i analizie powierzchni. Publikacja powstała dzięki kilkudziesięcioletniemu doświadczeniu w przemyśle oraz dokonaniom badawczym i naukowym jej Autora – profesora dr. hab. Stanisława Adamczaka profesora Politechniki Świętokrzyskiej oraz byłego (dwukrotnego) rektora tejże uczelni. Autor w swojej książce przede wszystkim odnosi się do praktyki przemysłowej, publikacja jest więc bogata w treści przydatne w pracy inżynierskiej, zawiera bardzo dużo ilustracji oraz przykładów zastosowań opisywanych rozwiązań w praktyce. Publikacja kierowana jest przede wszystkim do metrologów, technologów oraz konstruktorów urządzeń i aparatury pomiarowej, pracowników służb kontrolno-pomiarowych i utrzymania ruchu, przemysłu maszynowego i branż pokrewnych czy specjalistów projektowania przemysłowego. Z uwagi na przedstawioną tematykę książka nadaje się również jako lektura dla studentów I i II stopnia kierunków technicznych typu mechanika i budowa maszyn, inżynieria produkcji i materiałowa czy mechatronika, elektrotechnika, inżynieria medyczna czy logistyka.
Szczegóły
Tytuł
Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych
Podtytuł
Zarysy kształtu - Falistość – Mikro- i nanochropowatość
Autor
Wydawnictwo
Wydanie
1
Rok wydania
2023
Oprawa
Miękka
Ilość stron
450
Format
16.5x23.5cm
Języki
polski
ISBN
9788301231583
Rodzaj
Książka
EAN
9788301231583
Data premiery
2023-10-23
Dodałeś produkt do koszyka
Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych
103,35 zł
Rabaty do 45% non stop
Ponad 200 tys. produktów
Bezpieczne zakupy
Recenzje