26.47
Książki
Wydawnictwo Naukowe PWN
Wzorcowanie aparatury pomiarowej (Uszkodzona okładka)
Wydawnictwo:
Wydawnictwo Naukowe PWN
Oprawa: Miękka
26,47 zł
Cena rekomendowana: 64,90 zł
Cena okładkowa/rekomendowana przez wydawcę/producenta.
Produkt chwilowo niedostępny
Powiadom o dostępności
Opis
Outlet: uszkodzenie okładki bez wpływu na treść
Nowoczesne podejście do wymagań współczesnej metrologii!
Nowe, zaktualizowane wydanie popularnego poradnika z zakresu metrologii, w którym przedstawiono:
aktualne wzorce pierwotne podstawowych jednostek miar, wzorce pomiarowe i badanie jednolitości miar;
podstawowe pojęcia metrologii, procedury zapewnienia jedności miar, procedury wzorcowania przyrządów pomiarowych i badania aparatury pomiarowej;
zasady tworzenia schematów sprawdzań wzorców i narzędzi pomiarowych;
aspekty niepewności wyników pomiarów i procedur wyznaczania niepewności,
wstępne opracowanie wyników kalibracji oraz procedury estymacji charakterystyk liniowych i nieliniowych, jedno- i wielowymiarowych przy różnych właściwościach błędów;
badanie metod analitycznych oraz badania międzylaboratoryjne procedur wzorcowania;
aspekty komputeryzacji procedur kalibracji i obsługi laboratorium;
sprawdzanie (walidację) metod badania i wzorcowania;
laboratoria akredytowane oraz zagadnienia prawnej kontroli metrologicznej i oceny zgodności;
przykład księgi jakości laboratorium spełniającego wymagania normy PN-EN ISO/IEC 17025:2005.
W porównaniu do poprzedniego wydania w wielu rozdziałach wprowadzono zmiany i uzupełnienia. W rozdziale o jednostkach miar, wzorcach pomiarowych i badaniu jednolitości miar uwzględniono postęp prac nad ustanowieniem nowego (kwantowego) układu jednostek miar SI oraz kierunki prac prowadzonych nad realizacją nowych (kwantowych) etalonów. Opisano też komputerowe wspomaganie procedur wzorcowania. Dokonano aktualizacji przepisów prawnych i norm, co było szczególnie istotne przy omawianiu zasad i uwarunkowań badania biegłości laboratorium wzorcującego, które jest obecnie obwarowane nowymi przepisami i jest pod nadzorem organizacji międzynarodowych.
Książka jest adresowana zarówno do studentów uniwersytetów (na wydziałach fizyki i chemii), jak i politechnik, oraz do pracowników naukowych i inżynierów zajmujących się budową aparatury pomiarowej oraz jej stosowaniem we wszystkich dziedzinach od mechaniki, elektrotechniki po chemię fizyczną i analityczną.
Nowoczesne podejście do wymagań współczesnej metrologii!
Nowe, zaktualizowane wydanie popularnego poradnika z zakresu metrologii, w którym przedstawiono:
aktualne wzorce pierwotne podstawowych jednostek miar, wzorce pomiarowe i badanie jednolitości miar;
podstawowe pojęcia metrologii, procedury zapewnienia jedności miar, procedury wzorcowania przyrządów pomiarowych i badania aparatury pomiarowej;
zasady tworzenia schematów sprawdzań wzorców i narzędzi pomiarowych;
aspekty niepewności wyników pomiarów i procedur wyznaczania niepewności,
wstępne opracowanie wyników kalibracji oraz procedury estymacji charakterystyk liniowych i nieliniowych, jedno- i wielowymiarowych przy różnych właściwościach błędów;
badanie metod analitycznych oraz badania międzylaboratoryjne procedur wzorcowania;
aspekty komputeryzacji procedur kalibracji i obsługi laboratorium;
sprawdzanie (walidację) metod badania i wzorcowania;
laboratoria akredytowane oraz zagadnienia prawnej kontroli metrologicznej i oceny zgodności;
przykład księgi jakości laboratorium spełniającego wymagania normy PN-EN ISO/IEC 17025:2005.
W porównaniu do poprzedniego wydania w wielu rozdziałach wprowadzono zmiany i uzupełnienia. W rozdziale o jednostkach miar, wzorcach pomiarowych i badaniu jednolitości miar uwzględniono postęp prac nad ustanowieniem nowego (kwantowego) układu jednostek miar SI oraz kierunki prac prowadzonych nad realizacją nowych (kwantowych) etalonów. Opisano też komputerowe wspomaganie procedur wzorcowania. Dokonano aktualizacji przepisów prawnych i norm, co było szczególnie istotne przy omawianiu zasad i uwarunkowań badania biegłości laboratorium wzorcującego, które jest obecnie obwarowane nowymi przepisami i jest pod nadzorem organizacji międzynarodowych.
Książka jest adresowana zarówno do studentów uniwersytetów (na wydziałach fizyki i chemii), jak i politechnik, oraz do pracowników naukowych i inżynierów zajmujących się budową aparatury pomiarowej oraz jej stosowaniem we wszystkich dziedzinach od mechaniki, elektrotechniki po chemię fizyczną i analityczną.
Producent:
WYDAWNICTWO NAUKOWE PWN SPÓŁKA AKCYJNA
UL. GOTTLIEBA DAIMLERA 2
02-460 Warszawa (PL)
tel: 226954800
email: [email protected]
Szczegóły
Tytuł
Wzorcowanie aparatury pomiarowej (Uszkodzona okładka)
Autor
Piotrowski Janusz
, Kostyrko Krystyna
Wydawnictwo
Wydanie
2
Rok wydania
2012
Oprawa
Miękka
Ilość stron
582
Format
17.0x24.0cm
Języki
polski
ISBN
9788301170516
Rodzaj
Książka
EAN
9788301170516
Dodałeś produkt do koszyka

Wzorcowanie aparatury pomiarowej (Uszkodzona okładka)
26,47 zł
Recenzje